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                  首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 涂裝檢測(cè) > X射線測(cè)厚儀 > XULM XULM-XYmX射線熒光鍍層測(cè)厚儀

                  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

                  簡(jiǎn)要描述:X射線熒光鍍層測(cè)厚儀又名x-ray光譜儀,x射線合金測(cè)厚儀,射線熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。

                  • 產(chǎn)品型號(hào):XULM XULM-XYm
                  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
                  • 更新時(shí)間:2024-07-07
                  • 訪  問(wèn)  量:15669
                  產(chǎn)品詳情

                  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 和FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm    X射線光譜儀,用于細(xì)小零部件上鍍層厚度的無(wú)損測(cè)量和成分分析

                  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀X-RAY XULM系列簡(jiǎn)介
                  為了使每次測(cè)量都能在*的條件下進(jìn)行,XULM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。
                  比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量。可測(cè)量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。
                  XULMX射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
                  本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
                  典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
                  微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測(cè)量
                  印制線路板上手動(dòng)測(cè)量
                  珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量及成分分析
                   
                  X-RAY XULM系列設(shè)計(jì)理念
                  FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號(hào),分別對(duì)應(yīng)不同樣品平臺(tái):
                  XULM固定平面平臺(tái)
                  XULM XYm手動(dòng)X/Y平臺(tái)
                  高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能,可以定位測(cè)量位置。
                  盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測(cè)量室,從而可以測(cè)量更大體積的樣品。
                  外罩底部留下了空隙,可方便地測(cè)量超出測(cè)量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。
                  通過(guò)強(qiáng)大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過(guò)程,包括測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
                  XULM型光譜儀是型式許可符合德國(guó)”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。
                   
                  X-RAY XULM系列通用規(guī)范

                  用途
                  能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測(cè)量鍍層厚度和材料分析
                  可測(cè)量元素范圍
                  從氯(17)到鈾(92),如使用選配的WinFTM® BASIC,可zui多同時(shí)測(cè)量24種元素
                  設(shè)計(jì)理念
                  臺(tái)式儀器,測(cè)量門(mén)向上開(kāi)啟
                  測(cè)量方向
                  由下往上

                   
                  X-RAY XULM系列X射線源

                  X射線靶材
                  帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管
                  高壓
                  三種可調(diào)高壓:30 kV40 kV50 kV
                  孔徑(準(zhǔn)直器)
                  4個(gè)可切換準(zhǔn)直器:
                  標(biāo)準(zhǔn)型(523-440):圓形Ø 0.1mmØ 0.2mm;矩形0.05 x 0.05mm0.2 x 0.03mm
                  可選 (523-366):圓形Ø 0.1mmØ 0.2mmØ 0.3 mm;矩形0.3 x 0.05 mm
                  可選 (524-061):圓形Ø 0.1mmØ 0.2mm;矩形0.3 x 0.05 mm0.05 x 0.05mm
                  可按要求定制其它規(guī)格
                  基本濾片
                  3種可切換的基本濾片(標(biāo)準(zhǔn)型:鎳,無(wú),鋁)
                  測(cè)量點(diǎn)大小
                  取決于測(cè)量距離和使用的準(zhǔn)直器的大小,視頻窗口中顯示的就是實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)尺寸,使用矩形0.05 x 0.05mm準(zhǔn)直器,zui小的測(cè)量點(diǎn)面積約為Ø 0.1 mm
                  測(cè)量距離,如樣品為腔體時(shí)
                  使用保護(hù)的DCM(測(cè)量距離補(bǔ)償法)功能:
                  測(cè)量距離為0 ~ 20 mm時(shí),為已校準(zhǔn)范圍;
                  測(cè)量距離為20 ~ 27.5 mm,為非校準(zhǔn)范圍。

                  X射線探測(cè)器

                  X射線接收器
                  比例接收器
                  二次濾波器
                  可選:鈷濾波器或鎳濾波器

                  X-RAY XULM系列樣品定位

                  視頻顯微鏡
                  高分辨 CCD彩色攝像頭,可用來(lái)觀察測(cè)量位置十字線刻度和測(cè)量點(diǎn)大小經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)
                  測(cè)量區(qū)域的LED照明亮度可調(diào)節(jié)
                  放大倍數(shù)
                  38 x ~184x (光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

                   

                  樣品臺(tái)
                  XULM
                  XULM XYm
                  設(shè)計(jì)
                  固定樣品平臺(tái)
                  手動(dòng)XY平臺(tái)
                  X/Y方向zui大可移動(dòng)范圍
                  -
                  50 x 50 mm
                  樣品放置可用區(qū)域
                  250 x 280mm
                  樣品zui大重量
                  2kg
                  樣品zui高高度
                  240mm

                   

                  電氣參數(shù)
                  電壓,頻率
                  AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz
                  功率
                  zui大為 120 W (測(cè)量頭重量,不包括計(jì)算機(jī)
                  保護(hù)等級(jí)
                  IP40
                  儀器規(guī)格
                  外部尺寸
                  xx[mm]395 x 580 x 510
                  重量
                  45 kg
                  內(nèi)部測(cè)量艙尺寸
                  xx[mm]360 x 380 x 240
                  環(huán)境要求
                  測(cè)量時(shí)溫度
                  10°C – 40°C / 50°F – 104°F
                  存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度
                  0°C – 50°C / 32°F – 122°F
                  空氣相對(duì)濕度
                  ≤ 95 %,無(wú)結(jié)露
                  計(jì)算系統(tǒng)
                  計(jì)算機(jī)
                  帶擴(kuò)展卡的Windows®個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
                  軟件
                  標(biāo)準(zhǔn)配置:Fischer WinFTM® LIGHT
                  可選配置:Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
                  執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
                  CE合格標(biāo)準(zhǔn)
                  EN 61010
                  X射線標(biāo)準(zhǔn)
                  DIN ISO 3497 ASTM B 568
                  型式許可
                  型式許可符合德國(guó)”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。

                  如有特殊要求,可與Fischer磋商,定制特殊的XULM型號(hào)。
                  X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測(cè)量,同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。
                  可以對(duì)幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。
                  FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀,它可以對(duì)未知材料進(jìn)行簡(jiǎn)單,快速而的分析。分析范圍從鋁(Al)到鈾(U),即使含量很小也可以測(cè)量。

                  X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強(qiáng)大的性能,是因?yàn)樗褂昧藥х甓鋮s的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測(cè)器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。

                  如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起,這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無(wú)損和測(cè)量金含量的理想設(shè)備。
                   
                  更多X-RAY XULM系列以及其他款型相關(guān)請(qǐng)。

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