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                  首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 涂裝檢測(cè) > 涂層測(cè)厚儀 > MiniTest 4100涂鍍層測(cè)厚儀

                  涂鍍層測(cè)厚儀

                  簡(jiǎn)要描述:涂鍍層測(cè)厚儀/覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型是MiniTest系列中Z的一款儀器,相比其他款機(jī)型有有著全面的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能和其他附件功能。

                  • 產(chǎn)品型號(hào):MiniTest 4100
                  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
                  • 更新時(shí)間:2024-07-08
                  • 訪  問(wèn)  量:1469
                  產(chǎn)品詳情

                  涂鍍層測(cè)厚儀/覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

                  涂鍍層測(cè)厚儀/覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量:

                  應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

                  99

                  每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)

                  99

                  可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

                  500

                  數(shù)據(jù)總量

                  10000

                  /覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能:

                  讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

                  讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

                  組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

                  組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

                  存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

                  分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

                  顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

                  /覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型其他功能概述:

                  設(shè)置極限值

                  連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值

                  連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

                  連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值

                  /覆層測(cè)厚儀德國(guó)EPK(Elektrophysik)MiniTest 4100型所配探頭與其他minitest機(jī)型*,請(qǐng)查閱其他款文檔。

                  所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
                  F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
                  N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
                  FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

                  相關(guān)測(cè)厚儀探頭配置請(qǐng)與我們。

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                  • 驗(yàn)證碼:

                    請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果(填寫(xiě)阿拉伯?dāng)?shù)字),如:三加四=7
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