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德國菲希爾x射線測試儀

簡要描述：HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了的軟件和硬件技術，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點

產(chǎn)品型號：FISCHER
廠商性質：經(jīng)銷商
更新時間：2024-07-07
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產(chǎn)品詳情

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了的軟件和硬件技術，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點。

*的WinFTM^®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM^® V.6軟件）

X射線測厚儀典型的應用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

zui多24種鍍層（使用WinFTM^® V.6軟件）。

分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

	FISCHERSCOPE^® X-RAY XUL（M）^®	FISCHERSCOPE^® X-RAY XDL^®-B	FISCHERSCOPE^® X-RAY XDLM^®-C4	FISCHERSCOPE^® X-RAY XDVM^®-P	FISCHERSCOPE^® X-RAY XDVM^®-µ
測量方向	從下往上	從上往下	從上往下	從上往下	從上往下
X-射線管型號 W: 鎢管 MW: 微聚焦鎢管	W 或 MW	W	MW	MW	MW
可調(diào)節(jié)的高壓 30kV; 40kV; 50kV
開槽的測量箱體
基本Ni濾波器
接收器（Co）可選擇的 WM-版本
數(shù)準器數(shù)目	W-類型: 1 WM-類型: 4	1	4	4	1
z-軸	無	無，或電機驅動或可編程的	電機驅動的或可編程的	可編程的	可編程的
測量臺類型	固定臺面或可選的手動XY工作臺	固定臺面或手動XY工作臺或可編程的XY工作臺	手動XY工作臺或可編程的XY工作臺	可編程的XY工作臺	可編程的XY工作臺
測試點的放大倍率	38 - 184 x	20 - 180 x	20 - 180 x	20 - 180 x	30 - 1108 x
DCM方法（距離控制測量）
WinFTM^® 版本	V.3 標準 V.6 可選擇	V.3 標準 V.6 可選擇	V.3 標準 V.6 可選擇	V.3 標準 V.6 可選擇	V.6 標準
操作系統(tǒng)： Windows XP prof.

	FISCHERSCOPE X-RAY CONTI 4000
測量方向	text
X-射線管型號 W: 鎢管 MW: 微聚焦鎢管	text
可調(diào)節(jié)的高壓 30kV; 40kV; 50kV
開槽的測量箱體
基本Ni濾波器
接收器（Co）可選擇的 WM-版本
數(shù)準器數(shù)目	text
z-軸	text
測量臺類型	text
測試點的放大倍率	text
DCM方法（距離控制測量）
WinFTM^® 版本	text
操作系統(tǒng)： Windows XP prof.

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